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涂層測厚儀 型號:KM1-LS225

涂層測厚儀 型號:KM1-LS225

簡要描述:
涂層測厚儀 型號:KM1-LS225

探頭型號
F500鐵基探頭
測量原理:磁感應
基體材料:鐵磁性金屬
測量范圍:0.0~500μm
測量間隔:
1.5s(單次模式)
0.4s(連續模式)

產品時間:2025-08-20

訪問量:2072

廠商性質:生產廠家

生產地址:

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涂層測厚儀 型號:KM1-LS225

LS225涂鍍層測厚儀由LS225主機和探頭組成,目前主機可支持F500鐵基探頭和N1500、N2000非鐵基探頭。F500和N1500采用小探頭設計,適合于釘子、螺栓等小工件的薄鍍層或各種鋁材表面、陽極氧化層測量。N2000采用自重觸發測量設計,適合測量平面板材的涂層厚度。

涂層測厚儀 型號:KM1-LS225

探頭型號
F500鐵基探頭
測量原理:磁感應
基體材料:鐵磁性金屬
測量范圍:0.0~500μm
測量間隔:
1.5s(單次模式)
0.4s(連續模式)
分辨率:
0.1μm:(0μm ~ 99.9μm)
1μm:(100μm ~500μm)
重復性:≤±(0.8%H+0.1μm)手壓測試機架測試,H為標準值
誤差:±(2%H+0.3μm)五點校準,H為標準值
單位:μm / mil
小曲率半徑:凸面1.5mm,凹面10mm
小基體厚度:0.1mm



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